Новости Словари Конкурсы Бесплатные SMS Знакомства Подари звезду
В нашей
базе уже
59876
рефератов!
Логин

Пароль

Ефект Ганна5390

Ефект Ганна5390.
Ефект Ганна
1. РефератДана робота містить 21 сторінку та складається з 6 розділів: вступу, рефератної частини, теоретичної сторони ефекту Ганна, практичної сторони – діодів та генераторів Ганна, висновку та списку використаної літератури. Також має 14 ілюстрацій (10 рисунків: 4 ескпериментальних графіки, 3 зображення реальних діодів, 7 схематичних зображення) і 10 розрахункових формул.Діоди Ганна, генератори Ганна, N – подібна ВАХ, негативний опір, арсенид галію, фосфит індію, домен, Дж. Ганн, зонна енергетична структура з двома мінімумами, пікова характеристика I=I(t).2. ВступУ даній роботі розглядаються процеси, що проходять у однорідних напівпровідниках електронного типу провідності при сильних електричних полях. Цей ефект спостерігається в арсеніді галія, фосфиту індію та інших напівпровідниках, де існує два мінімума в енергетичній структурі кристалу. Виникнення негативної частини графіку ВАХ відбувається у результаті різних значень рухливості електронів у двох мнімумах цих матеріалів. На основі цього явища можна конструювати генератори, які можуть працювати на високих частотах від 1 до 50 ГГц, при цьому частота визначається довжиною кристалу. У зв’язку з підвищенною увагою до спектру надвисоких частот електромагнітних хвиль в останні роки, можна сказати, що вивчення цих явищ є досить актуальним.3. Ефект ГаннаВиникнення негативної диференційної провідності в однорідних напівпровідниках під дією сильного електричного поля.У сильних електричних полях рухливість носіїв заряду починає залежати від напруженості прикладеного поля: µ = µ(?). Внаслідок цього статична провідність напівпровідника ?0 = enµ, що входить у дифиринційний закон Ома (i = enµ? = ?0?), зберігаючись позитивною, може істотно змінити своє значення із зміною напруженості поля. Залежно від характеру цієї зміни, диференціальна провідність напівпровідникаможе виявитися як величиною позитивною, так і негативною.Перший випадок реалізується тоді, коли із ростом напруженості поля ? рухливість носіїв µ збільшується, так що або зменшується настільки слабко, що хоча , але абсолютне значення , внаслідок чого вираз , зберігає позитивний знак.Другий випадок реалізується тоді, коли з ростом ? рухливість носіїв заряду µ падає, причому настільки різко, виконується не тільки умова , але й . Тоді вираз , стає негативним, що й приводить до значення меншим за нуль.У напівпровідниках, зона провідності яких має більше одного мінімуму енергії, електрон з хвильовим вектором k, що відповідає одному з мінімумів, при розсіюванні може виявитися у стані із хвильовим вектором k', що належить іншому мінімуму. У результаті такого розсіювання буде мати місце перекидання електронів з одного мінімуму в інший мінімум зони провідності. Такий вид розсіювання одержав назву «міждолинного».Міждолинне розсіювання носіїв заряду у певних умовах може приводити до виникнення коливань струму із частотою порядку 1010 Гц при прикладенні до однорідного напівпровідника сильного постійного електричного поля. Це явище, назване ефектом Ганна, уперше спостерігалось на СаАs.На рис. 3.1 зображена енергетична структура арсеніду галію у напрямку осі <100>. Істотним тут є наявність двох мінімумів А и Б, розділених зазором ?E=0,36 еВ, в яких ефективні маси електронів різні. В області нижчої долини А електрони легкі, з ефективною масою m*=0,068m0, вони мають високу рухливість [?1 ? 4000 ? 8000 см2/(В · с)]. В області високої долини Б електрони важкі з m* = 1,2m0 і мають низьку рухливість [?1 ? 100 см2/(В · с)]. Щільність станів у верхній долині приблизно в 1500 разів вище, ніж у нижній долині. Під час відсутності зовнішнього поля електрони, що перейшли з донорних рівнів у зону провідності, перебувають у термодинамічній рівновазі із граткою напівпровідника, маючи однакову з ним температуру T0. Вони можуть займати енергетичні рівні як у нижньому, так і у верхньому мінімумах зони. Відповідні концентрації в їхніх мінімумах становлять:та ,де - відстань від дна зони провідності (нижнього рівня) до рівня Фермі (рис. 3.1).Маємо відношення.Для T0 = 300K маємо:k0 = 0,026 еВ і .Оскільки енергія електронів значно менше енергетичного зазору kТ << ?Е, тоді електрони в основному будуть займати енергетичні рівні в нижчій долині зони провідності (~99,8 %) (рис. 3.3, а), де вони мають високу рухливість, малу ефективну масу й малу щільність станів. На рис. 3.1 показана крива розподілу Больцмана електронів зони провідності по енергіях при T0=300K (крива 1). Вона практично не простирається в область енергій, що відповідає верхньому мінімуму.Розглянемо тепер, який вплив на характер розподілу електронів по енергіях може зробити сильне поле. Електричне поле, змушуючи дрейфувати електрони, передає їм енергію. У результаті розсіювання електронів ця енергія переходить в енергію їх хаотичного теплового руху — електронний газ «розігрівається». У сильному полі його температура Те може значно перевищувати температуру гратки T0. Відповідно до цього підвищується енергія електронів і крива їхнього розподілу по енергіях, деформуючись, простирається в область високих енергій (рис. 3.1, крива 2). Це приводить до появи все більшого числа електронів, здатних переходити з нижнього мінімуму у верхній (рис. 3.3 б). На рис. 3.1 область кривої розподілу, що відповідає заповненню верхнього мінімуму, заштрихована, а самі переходи електронів з мінімуму в мінімум показані горизонтальною стрілкою.Розрахунок показує, що для арсеніду галію,причому починаючи з поля ? ? 3? 105 В/м коефіцієнт ? >1. Тому у полях з напруженістю ? >3? 105 В/м температура електронного газу починає різко збільшуватися з ростом ? і вже при ? ? 3,5? 105 В/м досягає значення Tе ? 600К. При такій температурі електронного газу відношення n2/n1 ? 1,75. Це означає, що при ? ? 3,5? 105 В/м більша частина електронів зони провідності з’являється не у нижньому, а у верхньому мінімумі. (рис. 3.3 в) тому що рухливість електронів у верхньому мінімумі значно менше (в 40 разів), аніж у нижньому, тоді перехід великої кількості електронів з нижнього мінімуму у верхній повинен супроводжуватися різким зменшенням їхньої ефективної рухливості, а отже, і зменшенням густини струму, що протікає через напівпровідник, яке у цьому випадку описується наступною формулою:j = e(n1µ1 + n2µ2) ?.На рис. 3.2 прямій ОD показана залежність j1=j1(?), накреслена в припущенні, що всі електрони зони провідності перебувають у нижньому мінімумі (п1 = п; n2 = 0), маючи рухливість µ1. Ця пряма нахилена до осі абсцис під кутом ?1. На цьому ж рисунку наведена пряма ОС, що виражає залежність j2=j2(?) у припущенні, що всі електрони перебувають у верхньому мінімумі (п1= 0; n2 = n), маючи рухливість µ1. Пряма нахилена до осі абсцис під кутом ?2< ?1.Простежимо тепер, як міняється щільність струму в напівпровіднику в міру збільшення на
Умар.Ш. был тут !!!!!
 
давайте изгоним мат !!!
 
ДОБРОЙ НОЧИ ОТ Ъ
ЛОКИ ИНО
 
ДМК МЭ
 
где инфааа?